EPOCH 650

IDEALNY ROZMIAR, NAJWYŻSZA WYDAJNOŚĆ I NIEZAWODNOŚĆ

Najpopularniejszy wybór operatorów w Polsce i na świecie, który sukces zawdzięcza dzięki uniwersalności, wydajności, jakości i niezawodności. EPOCH 650 łączy największe na rynku możliwości badań ultradźwiękowych z wydajnością w pełni przenośnego i intuicyjnego urządzenia. Zestaw zoptymalizowanego menu i przycisków bezpośredniego dostępu powoduje, że EPOCH 650 jest najwyższej jakości urządzeniem do badań z wyjątkową łatwością obsługi.

‍

Duży wyświetlacz TFT w połączeniu z naszym opatentowanym odbiornikiem o wysokim zakresie dynamiki, daje bardzo stabilny obraz A-skan, znakomicie widoczny w każdych warunkach. Wytrzymała, ergonomiczna budowa pozwala na pracę niemal w każdych warunkach środowiskowych, podczas gdy elastyczny nadajnik PerfectSquare™ i możliwości cyfrowych filtrów pozwalają wykonywać badania niemal w każdej aplikacji.

‍

Defektoskop EPOCH 650 jest zaprojektowany do pracy niemal w każdych warunkach, od laboratorium po ekstremalne warunki zewnętrzne i atmosferę niebezpieczną. Zaprojektowany dla klasy IP 66 (wersja z pokrętłem) lub IP67 (wersja z padem nawigacyjnym) i testowany według bardzo surowych testów wytrzymałościowych i jakościowych. Dzięki temu użytkownik jest pewien, że EPOCH 650 nie zawiedzie w żadnych warunkach, zarówno w kwestii jakości badań jak i niezawodności.

‍

GŁÓWNE CECHY

• Spełnia wymagania ISO 22232-1
• Regulowany prostokątny impuls nadawczy PerfectSquare™
• Tryb A-skan na pełnym ekranie
• Cyfrowy odbiornik o wysokim zakresie dynamiki 
• Trzydzieści filtrów cyfrowych dla poprawy stosunku sygnału do szumu 
• 2 kHz PRF dla szybkiego badania
• Pokrętło lub pad nawigacyjny do regulacji parametrów
• Duży, czytelny w słońcu wyświetlacz VGA (5,76”) 
• Ponad 15 godzin pracy na baterii
• Standardowo: krzywe DAC/TVG oraz wbudowane wykresy DGS/AVG/OWR
• Wbudowane różne szablony raportów
• Karta pamięci microSD do transferu i zapisu danych 
• Opcjonalny Moduł Pomiarów Grubości z enkodowanym B-skan
• Wyjście alarmu i VGA
• Opcjonalne wyjście analogowe
  
  

OPCJONALNE FUNKCJE OPROGRAMOWANIA

Bramka Interferencyjna: Opcjonalna trzecia bramka pozwala śledzić w czasie rzeczywistym zmienne echo interferencyjne w celu uzyskania stałych pomiarów. 

Moduł Pomiarów Grubości: Uproszczony tryb do pomiarów grubości pozwala na automatyczne ustawienia na podstawie wyboru głowicy, Automatyczną Regulację Wzmocnienia (AGC), wykonywanie pomiaru za pomocą algorytmów z grubościomierzy, korektę drogi-V i kompensację zużycia głowicy (poprzez automatyczną funkcję “Do Zero”). Funkcja zawiera także kolorowy widok siatki pomiarowej 2D i enkodowany B-skan (przekrój grubości). 

Pamięć Szablonu: Funkcja pozwala na porównywanie na ekranie sygnału A-skan z zapamiętanymi wzorami. Wzory (szablony) mogą być dynamicznie przełączane, poprzez pojedyncze naciśnięcie przycisku, w celu szybkiego porównania sygnału. Znakomita funkcja do badania zgrzein oraz innych aplikacji.

Tłumienie Echa Dna (BEA): Funkcja pozwala na wytłumienie sygnału znajdującego się w obrębie Bramki 2.

API 5UE: Pozwala na ocenę wielkości wskazań zgodnie z API 5UE. Używa ADDT ( z ang. Amplitude Distance Differential Technique) do pomiaru wielkości potencjalnych defektów podczas procesu udowadniania (z ang. prove-up) rur OCTG.

Uśrednianie A-skan: Ta funkcja pozwala na uśrednianie sygnału w czasie rzeczywistym: 2X, 4X, 8X, 16X i 32X.